Angewandte Oberflachenanalyse mit SIMS Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie (German, Paperback, Softcover reprint of the original 1st ed. 1986)
M. Grasserbauer, H. J. Dudek, Maria F. Ebel
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